Алмазные подложки / Алмазные пластины
Diamond Substrate/Diamond Wafer
Компания HonWay Industrial предоставляет услуги индивидуального производства,
создавая оптимальные алмазные подложки / пластины по запросу клиента.
Характеристики продукта
- CVD-алмазы производятся методом химического осаждения из паровой фазы.
- Алмаз обладает наивысшей теплопроводностью среди известных материалов, обеспечивая быструю и эффективную тепловую отдачу.
- Обладает отличной износостойкостью и устойчивостью к повреждениям. Применяется в высокопрочных инструментах, промышленных пилах и бурильном оборудовании.
- Высокая прозрачность и низкое поглощение в широком диапазоне длин волн делает его идеальным материалом для оптических окон, линз и высокоточных оптических компонентов.
- Высокая химическая устойчивость к кислотам и щелочам обеспечивает стабильную работу в агрессивных средах.
- Нетоксичен и не вызывает отторжения организмом, что делает его пригодным для медицинских приборов и имплантов.
Области применения:
-
Теплоинтерфейсные материалы (TIMs): алмазные пластины применяются в качестве высокоэффективных теплопроводящих прослоек между чипами, модулями и радиаторами.
-
Электронная упаковка и подложки: обеспечивают отличную теплопередачу в полупроводниковых компонентах с высокой плотностью мощности, способствуя миниатюризации и повышению производительности.
- Серверы: идеально подходят как теплопроводящие слои для GaN или SiC-компонентов, продлевают срок службы и повышают надежность. Также применимы в современных упаковках 2.5D/3D и в высокопроизводительных вычислительных платформах.
-
LED и оптоэлектроника: значительно улучшают тепловое управление, продлевают срок службы компонентов, увеличивают яркость и энергоэффективность.
-
Изолирующие подложки: CVD-алмаз используется в качестве подложки для высокоэффективных полупроводников благодаря электроизоляции и высокой теплопроводности.
- Медицинские приборы: промышленный алмаз применяется в высокоточных хирургических инструментах и стоматологических борах, обеспечивая долговечность и точность.
Спецификации продукта:
Категория | Оптический уровень | Уровень теплоотвода |
Тип алмаза | Монокристалл | Поликристалл |
Размер пластин | До 15×15 мм² (кастомизация) | 2 дюйма,кастомизация |
Размер частиц | ≤10μm | |
Допуск диаметра | +0.1, -0 мм | +0.1, -0 мм |
Толщина | 0.3–1.5 мм | |
Толщина после полировки | 0.1–2 мм | 0.2–1.0 мм |
Допуск толщины | ±0.02 мм (до 10 мм) ±0.03 мм (10–15 мм) | ±50μm |
Направление кристалла | 100 | |
Обработка поверхности | 拋光,Ra<2nm | |
Шероховатость поверхности роста | <100nm Ra | |
Шероховатость начальной поверхности | <30nm Ra | |
Стандартная толщина | 300μm |
※ Свяжитесь с HonWay для индивидуальных заказов
Физические характеристики:
Категория | Оптический уровень | Уровень теплоотвода |
Тип алмаза | Монокристалл | Поликристалл |
Плотность | 3.52 г/см³ | 3.52 г/см³ |
Ширина линии по полувысоте (FWHM) | ~2.1 cm⁻¹ | |
Концентрация азота | <0.5 ppm | |
Теплопроводность | 1900~2200 W/(m·K) 300K | 1200~2000 W/(m·K) 300K |
Пропускание | >70% 1064 nm | |
Показатель преломления | 2.379 @ 10.6 мкм | |
Модуль Юнга | 850GPa | |
Химическая стойкость | Не растворяется в кислотах и щелочах | |
Прочность на излом | 350GPa | |
Параллельность | <4μm/cm |
Сравнение характеристик алмазных пластин
Монокристаллические CVD | Поликристаллические CVD | |
Структура | Единый непрерывный кристалл | Множество случайно ориентированных зерен |
Механические свойства | Отличная твердость и прочность | Меньшая прочность из-за границ зерен |
Теплопроводность | Выше, отличное теплоотведение | Ниже (границы зерен) |
Оптические свойства | Высокая прозрачность и точность | Меньшая чистота, возможны дефекты |
Электрические свойства | Анизотропные, поддаются контролю | Более изотропные, хуже управляются |
Области применения | Электроника, оптика, высокопроизводительные области | Промышленные инструменты, теплоотвод, абразивы |
Сравнение свойств алмаза и других ИК-материалов:
Физическая характеристика | Ед. изм. | Алмаз (Diamond) | Сульфид цинка (ZnS) | Сульфид цинка (ZnS) | Германий (Ge) | Кремний (Si) | Арсенид галлия (GaAs) | Глинозем (Al₂O₃) | |
Ширина запрещенной зоны (Band gap) | eV | 5.48 | 2.7 | 3.9 | 0.664 | 1.11 | 1.42 | 9.9 | |
Длина волны отсечки (Cut-off wavelength) | μm | 20 | 14 | 23 | 5.5 | ||||
Коэффициент поглощения (Absorption coefficient) | 0.1~0.3 | 0.005 | 0.2 | 0.02 | 0.35 | 0.01 | |||
Коэффициент поглощения (Absorption coefficient) | 10.6 μm | 0.1~0.6 | 0.0005 | 0.2 | 0.02 | ||||
Микротвердость (Microhardness) | кг/мм² | 8300 | 137 | 230 | 780 | 1150 | 721 | 190 | |
Показатель преломления (Refractive index) | 2.38 | 2.40 | 2.19 | 4.00 | 3.42 | 3.28 | 1.63 | ||
dn/dT | 10⁻³/K | 1.0 | 6.4 | 4.1 | 40 | 13 | 15 | 1.3 | |
Теплопроводность (Thermal conductivity) | W/(cm·K) | 18~22 | 0.19 | 0.27 | 0.59 | 1.63 | 0.55 | 0.35 | |
Коэффициент теплового расширения (Coefficient of thermal expansion) | 10⁻⁶K⁻¹ | Оптический уровень | 1.3 | 7.6 | 7.9 | 5.9 | 2.56 | 5.9 | 5.8 |
уровень теплоотвода | 0.8~1.0 |
Есть вопросы? Связаться с нами